Description
VM600 MPC4是一个重力进料测试处理器半导体器件可在多种温度下进行测试，最多可处理八个测试点，索引时间低至650毫秒。索引时间大致是从测试插座中取出已测试器件并替换为新的未测试器件所需的时间。
顾名思义，重力输送测试处理器利用重力将待测芯片或器件(VM600 MPC4)输送到封装在处理器内的测试插座中。利用这种技术，可以快速测试大量器件，以筛选故障器件或未能满足所有要求的规格。这确保了有缺陷的、脆弱的或受损的部件不会被发货，也不会最终出现在客户的应用中。Zeus处理器支持将dut输送到测试点的试管和金属盒。
VM600 MPC4平台的测试时间约为1.5秒，结合低索引时间和八个测试点，总的测试设备吞吐量为每小时几千或更多。器件测试时间会影响IC制造商的产品成本，较短的测试时间会降低单位开销和分配成本，允许更具竞争力的定价并提高测试平台的投资回报率。
VM600 MPC4测试是一种无损测试，用于评估器件对PD的敏感度及其随后的隔离栅故障。在HVPD测试中，高压脉冲被施加到器件上形成电弧或者通过测试电路测量其绝缘性能的击穿。
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